詳細(xì)資料：

遮陽半球輻射率檢測(cè)儀簡(jiǎn)介：

本儀器用于直接測(cè)量中空玻璃中Low-E膜面輻射率，同時(shí)測(cè)量中空玻璃的玻璃及中空腔厚度，并識(shí)別Low-E膜面的位置。具有小巧便攜、測(cè)量速度快、自動(dòng)測(cè)量的優(yōu)點(diǎn)。特別適合對(duì)已安裝建筑玻璃、門窗玻璃進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)無損測(cè)量。

GM800半球輻射率測(cè)試儀功能：無損測(cè)量中空玻璃中Low-E膜面的輻射率；

　　　測(cè)量中空玻璃、中空腔厚度及總厚度；

　　　識(shí)別中空玻璃Low-E膜面的位置。

半球輻射率亦稱為比輻射率，是物體單元外表面向整個(gè)半球空間發(fā)射的一切波長(zhǎng)的總輻射，它的總輻射能與同溫度下黑體輻射能之比。

斯蒂芬-玻耳茲曼定律描繪的是物體單元外表面向整個(gè)半球空間發(fā)射的一切波長(zhǎng)的總輻射，它的總輻射能與同溫度下黑體輻射能之比稱為半球輻射率，亦稱為比輻射率。半球發(fā)射率ε與法向發(fā)射率εn的關(guān)系為:ε=Mεn，M為修正系數(shù)。

LOW-E玻璃的半球輻射率一般是0.45

low-e玻璃是鍍膜玻璃地一種。 Low-E玻璃又稱低輻射玻璃，是在玻璃外表鍍上多層金屬或其他化合物構(gòu)成地膜系產(chǎn)物。其鍍膜層具有對(duì)可見光高透過及對(duì)中遠(yuǎn)紅外線高反射地特征. 一般鍍膜玻璃是在玻璃外表涂鍍一層或多層金屬、合金或金屬化合物薄膜，以改動(dòng)玻璃地光學(xué)性能，又稱熱反射玻璃。鍍膜玻璃中應(yīng)用最多地是熱反射玻璃和低輻射玻璃。根本上采用真空磁控濺射法(離線)和化學(xué)氣相堆積法(在線)兩種消費(fèi)辦法。

遮陽半球輻射率檢測(cè)儀注意事項(xiàng)：

1.在使用儀器過程中需要確保輻射檢測(cè)儀的探測(cè)口與需要測(cè)測(cè)量的放射源之間不存在任何阻擋。

2.當(dāng)使用輻射檢測(cè)儀在對(duì)反射源進(jìn)行測(cè)量的過程中不可以將測(cè)量窗口面向太陽，否則對(duì)讀數(shù)可能會(huì)造成一定的影響。

3.探頭在裝在輻射檢測(cè)儀背面網(wǎng)狀窗內(nèi)，測(cè)量過程中網(wǎng)狀窗需要與被測(cè)物對(duì)準(zhǔn)。

4.當(dāng)方式開關(guān)位于mR/hr、μSV/hr或CPMCPS狀態(tài)時(shí)，儀器所顯示的讀數(shù)會(huì)每三秒鐘顯示一次，可能會(huì)導(dǎo)致在低計(jì)數(shù)率情況下顯示出的輻射水平會(huì)存在明顯的波動(dòng)。